实验项目 | 参考标准 | 实验条件 |
快速冷热冲击 | GR-468-CORE | -40°C~85°C,>10K/min,高低温各保持10min,循环 100 次 |
高温贮存 | GR-468-CORE | 85℃,168hrs |
低温贮存 | GR-468-CORE | -40℃,72hrs |
高温高湿贮存 | GR-468-CORE | 85℃,85% RH,168hrs |
实验项目 | 参考标准 | 实验条件 |
机械冲击 | MIL-STD-883 Method 2022 | 200g,2.5ms 5次/轴 |
机械振动 | MIL-STD-883 Method 2022 | 20g,20-2000-20Hz,4min/循环4次/轴 |
实验项目 | 参考标准 | 实验条件 |
连续老化 | NA | 33A,50℃壳温2000hrs(针对采用35W芯片的产品) 33A,55℃壳温2000hrs(针对采用35W芯片的产品) |
脉冲老化 | NA | 38A,50%占空比,10kHz,40℃壳温,1000hrs |
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